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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>OTSUKA/日本大塚
日本otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試儀nanoSAQLA是一種通過動態(tài)光散射法（DLS法）測量粒徑（粒徑范圍0.6nm~10um）的設(shè)備。支持從稀薄到濃厚系...
日本otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中)...
otsuka大塚透明電極材料膜厚儀涂層測厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度測...
日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度...
日本otsuka大塚FPD彩色濾光片薄膜測厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度...
日本otsuka大塚非接觸式顯微分光膜厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度測量...
日本otsuka大塚手持式金屬鍍層膜厚儀特點：手持式，便于攜帶至現(xiàn)場測量精度達到0.1μm單位適用于具有形狀的樣品，可進行非破壞性測量可測量不同基材材質(zhì)上的鍍膜
日本otsuka大塚非破壞性基材鍍層測厚儀特點：手持式，便于攜帶至現(xiàn)場測量精度達到0.1μm單位適用于具有形狀的樣品，可進行非破壞性測量可測量不同基材材質(zhì)上的鍍...
otsuka大塚電池材料研發(fā)ZETA電位粒徑測試儀非常適用于界面化學(xué)、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還...
otsuka大塚半導(dǎo)體漿料ZETA電位徑粒測試儀非常適用于界面化學(xué)、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉...
日本otsuka大塚新ZETA電位計兼納米粒度儀可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動池...
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