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CAPELLA系列探針臺(tái)支持從晶圓到封裝芯片級(jí)的所有LED產(chǎn)品類(lèi)型(垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片)的電氣和光學(xué)表征。無(wú)論您是需要高性能、高性?xún)r(jià)比還是專(zhuān)業(yè)探針系統(tǒng)...
入門(mén)級(jí)手動(dòng)探針臺(tái),用于表面耦合和水平邊緣耦合FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測(cè)量解決方案,以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是For...
CM300xi 探針臺(tái)可應(yīng)對(duì)極其復(fù)雜的環(huán)境帶來(lái)的測(cè)量挑戰(zhàn),例如在長(zhǎng)時(shí)間和多種溫度下在小焊盤(pán)上進(jìn)行無(wú)人值守的測(cè)試。在 EMI 屏蔽、光密和無(wú)濕氣的測(cè)試環(huán)境中,為各...
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