當(dāng)前位置：深圳市中圖儀器股份有限公司>>技術(shù)文章展示
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
86-0755-83318988
會(huì)員.png)
5
當(dāng)前位置：深圳市中圖儀器股份有限公司>>技術(shù)文章展示
2023
11-272023
11-22影像儀自行更換RGB光源，“看得清，測(cè)得準(zhǔn)”！
影像儀作為一種現(xiàn)代化高精度測(cè)量設(shè)備，在各行各業(yè)都有著廣泛的應(yīng)用。而RGB表光作為影像儀中的一個(gè)關(guān)鍵技術(shù)，也是實(shí)現(xiàn)圖像真實(shí)還原的重要因素之一。什么是RGB表光？RGB是指紅（Red）、綠（Green）、藍(lán)（Blue）三種基本色彩，在光學(xué)領(lǐng)域被廣泛運(yùn)用。而表光是指透過襯底的光亮。因此，RGB表光可以理解為透過紅、綠、藍(lán)三種基本色彩的光亮。在影像儀中，RGB表光技術(shù)通過控制紅、綠、藍(lán)三種光的強(qiáng)度和比例，來實(shí)現(xiàn)圖像的色彩還原和亮度調(diào)節(jié)。影像儀的RGB表光技術(shù)可以通過以下步驟來實(shí)現(xiàn)圖像真實(shí)還原：首先，光源2023
11-202023
11-20影像儀全景導(dǎo)航：實(shí)現(xiàn)無縫定位的關(guān)鍵利器
影像儀全景導(dǎo)航，快速定位產(chǎn)品特征！在工業(yè)制造領(lǐng)域中，影像儀全景導(dǎo)航可以提供全景影像，將整個(gè)區(qū)域的圖像精準(zhǔn)地捕捉下來，并通過軟件算法實(shí)現(xiàn)高效處理，以呈現(xiàn)出更加清晰和詳細(xì)的視圖。這一技術(shù)不僅可以提高定位精度，同時(shí)還能大幅度提升定位效率。與自動(dòng)化生產(chǎn)線緊密配合，可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)的產(chǎn)品檢測(cè)和質(zhì)量控制。圖像視場(chǎng)小、難以快速定位所需產(chǎn)品特征的問題，會(huì)影響產(chǎn)品的測(cè)量效率。在追求高精密的道路上，影像儀全景導(dǎo)航讓產(chǎn)品特性得以全面、精準(zhǔn)的展現(xiàn)。無論是產(chǎn)品的形狀、尺寸，還是顏色、紋理，都能精準(zhǔn)捕捉，快速定位和識(shí)別，輕松2023
11-20共聚焦顯微鏡究竟有哪些突出的應(yīng)用特點(diǎn)？
共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點(diǎn)，適用于多種不同樣品的成像和分析，能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰，易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學(xué)研究中的重要工具，同時(shí)為人們解析微觀世界提供了一種強(qiáng)大的手段。作為現(xiàn)代材料科學(xué)中的研究工具之一，共聚焦顯微鏡在現(xiàn)實(shí)中有著非常廣泛的應(yīng)用。1、高分辨率和高靈敏度共聚焦顯微鏡的分辨率比傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡高出許多，可以達(dá)到亞微米級(jí)別。同時(shí)，它還具有高靈敏度，能夠檢測(cè)樣品中微小的變化，并進(jìn)行高頻率的成像。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡系統(tǒng)所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清2023
11-202023
11-09坐標(biāo)測(cè)量?jī)x主機(jī)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)要求是什么？
坐標(biāo)測(cè)量?jī)x主機(jī)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)要求主要包括以下幾個(gè)方面：精度要求：坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的精度是其最重要的性能指標(biāo)之一，它直接影響到測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。因此，在設(shè)計(jì)主機(jī)結(jié)構(gòu)時(shí)，需要充分考慮如何提高設(shè)備的精度。例如，可以采用高精度的花崗巖機(jī)體和標(biāo)準(zhǔn)精密T型槽的大測(cè)臺(tái)，以及高精度氣浮導(dǎo)軌等結(jié)構(gòu)，以保證設(shè)備的測(cè)量精度。穩(wěn)定性要求：坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的穩(wěn)定性也是非常重要的性能指標(biāo)之一。為了保證測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性，主機(jī)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)需要充分考慮如何提高設(shè)備的穩(wěn)定性。例如，可以采用鑄鐵或鋁合金等高強(qiáng)度材料制作框架，以確保設(shè)備2023
11-09三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)&激光干涉儀：平行度測(cè)量的方法及檢測(cè)工具
平行度是評(píng)估物體是否保持平行狀態(tài)的重要指標(biāo)，對(duì)于機(jī)械加工和裝配過程中的許多環(huán)節(jié)都具有重要意義。所以平行度的測(cè)量方法及檢測(cè)工具在工業(yè)制造領(lǐng)域中起著至關(guān)重要的作用。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)作為一種高精度的測(cè)量設(shè)備，也可以用于平行度的測(cè)量。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量平行度操作步驟：1.將被測(cè)工件放置在三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量臺(tái)上，并確定工件的位置和方向。2.通過計(jì)算機(jī)程序控制三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探針移動(dòng)，使其與被測(cè)工件的表面接觸，并記錄下接觸點(diǎn)的位置坐標(biāo)。3.根據(jù)需要測(cè)量平行度的兩個(gè)面或線，可以分別對(duì)它們進(jìn)行測(cè)量。例如，如果要測(cè)量一個(gè)2023
11-08激光干涉儀：機(jī)床導(dǎo)軌平行度垂直度精密測(cè)量工具
激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量的精密儀器。廣泛應(yīng)用于光學(xué)、機(jī)械、電子等各種領(lǐng)域的測(cè)量。其中，平行度和垂直度的測(cè)量是激光干涉儀的重要應(yīng)用之一。傳統(tǒng)的測(cè)量方法通常采用機(jī)械測(cè)量或光學(xué)測(cè)量，但這些方法存在著精度低、誤差大、易受環(huán)境影響等缺點(diǎn)。而激光干涉儀具有高精度、高靈敏度、非接觸性等優(yōu)點(diǎn)，能夠?qū)崿F(xiàn)平行度和垂直度的高精度測(cè)量。激光干涉儀平行度測(cè)量原理平行度測(cè)量是在直線度測(cè)量的基礎(chǔ)上而擴(kuò)展的應(yīng)用。平行度測(cè)量由平行軸的兩組直線度測(cè)量組成，參見下面平行度測(cè)量光路原理構(gòu)件圖，其中直線度反射鏡作為共同的2023
11-08三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)輪廓度測(cè)量操作指南：打造高精度測(cè)量解決方案
在現(xiàn)代制造業(yè)中，精確度和質(zhì)量控制是至關(guān)重要的因素。而對(duì)于產(chǎn)品的尺寸和形狀的測(cè)量，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)成為了一種重要的工具。一、為什么選擇三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)？三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種能夠精確測(cè)量物體三維尺寸和形狀的設(shè)備。相較于傳統(tǒng)的測(cè)量工具，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有以下優(yōu)勢(shì)：1.高精度：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的測(cè)量，提升產(chǎn)品的精確度和質(zhì)量。2.高效率：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)能夠?qū)崿F(xiàn)快速的測(cè)量，大大提高了生產(chǎn)效率。3.多功能：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)不僅可以測(cè)量尺寸，還可以進(jìn)行形狀和位置的測(cè)量，滿足各種復(fù)雜零件的測(cè)量需求。二2023
11-02工業(yè)測(cè)量的兩大神器：輪廓儀和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
工業(yè)自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)基于機(jī)器視覺、激光等技術(shù)，可以提高產(chǎn)品精度和生產(chǎn)效率。它基于數(shù)字圖像處理技術(shù)和人工智能技術(shù)，能夠在生產(chǎn)線上自動(dòng)完成對(duì)產(chǎn)品尺寸的檢測(cè)和測(cè)量，如用于各種形狀、各種材質(zhì)的產(chǎn)品的測(cè)量（機(jī)械零件的尺寸測(cè)量、汽車零部件質(zhì)量控制、精密機(jī)床檢測(cè)）等。除了產(chǎn)品測(cè)量外，它還能應(yīng)用于刀具的形狀和尺寸的檢測(cè)、鑄造件表面缺陷的檢測(cè)等諸多領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品高速、高精度、高效率的檢測(cè)與控制。其中輪廓儀和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)作為其中最為重要的兩種工業(yè)自動(dòng)測(cè)量?jī)x器，在高精度測(cè)量領(lǐng)域中扮演著不可替代的角色。1、輪廓儀輪廓儀具2023
11-022023
11-02臺(tái)階儀工業(yè)測(cè)量?jī)x器：揭秘多領(lǐng)域應(yīng)用
臺(tái)階儀能檢測(cè)哪些東西？主要應(yīng)用在哪些領(lǐng)域？臺(tái)階儀是一種常見的工業(yè)測(cè)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域。它能完成對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。工作原理當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過時(shí)，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。CP200臺(tái)階儀采用線性可變差動(dòng)電容傳感器（LVDC），具有亞埃級(jí)分辨率，13u2023
11-012023
10-26臺(tái)階儀和輪廓儀在工業(yè)制造領(lǐng)域的區(qū)別和應(yīng)用領(lǐng)域解析
測(cè)量和檢測(cè)是工業(yè)制造領(lǐng)域的重要環(huán)節(jié)，而臺(tái)階儀和輪廓儀則是各有其特點(diǎn)和應(yīng)用范圍的兩種儀器。臺(tái)階儀和輪廓儀區(qū)別在哪？一、臺(tái)階儀1、產(chǎn)品概述臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器。它是利用光學(xué)干涉原理，對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。2、產(chǎn)品特點(diǎn)臺(tái)階儀在工業(yè)生產(chǎn)中，常用來保證產(chǎn)品的質(zhì)量和工藝要求的達(dá)標(biāo)。它對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，樣品適應(yīng)面廣，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。32023
10-26WD4000無圖晶圓檢測(cè)機(jī)：助力半導(dǎo)體行業(yè)高效生產(chǎn)的利器
晶圓檢測(cè)機(jī)，又稱為半導(dǎo)體芯片自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備，是用于對(duì)半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量進(jìn)行檢驗(yàn)和測(cè)試的專用設(shè)備。它可以用于硅片、硅晶圓、LED芯片等半導(dǎo)體材料的表面檢測(cè)，通過對(duì)晶圓的表面特征進(jìn)行全面檢測(cè)，可以有效降低產(chǎn)品的不良率，提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。一種晶圓表面形貌測(cè)量方法-WD4000無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)WD4000無圖晶圓檢測(cè)機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3DMapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)2023
10-232023
10-21不曾想閃測(cè)影像儀居然有如此之多的優(yōu)勢(shì)
閃測(cè)影像儀是一種高速成像設(shè)備，具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。其原理是基于高速攝影技術(shù)。它通過快速曝光和高幀率的圖像采集，能夠捕捉到非常短暫的事件和快速運(yùn)動(dòng)的物體。這種技術(shù)在許多領(lǐng)域中都非常有用，例如流體力學(xué)研究、爆炸試驗(yàn)、材料測(cè)試等。閃測(cè)影像儀的工作方式包括兩個(gè)主要部分：閃光源和圖像傳感器。閃光源會(huì)產(chǎn)生一道強(qiáng)光脈沖，照亮目標(biāo)物體，而圖像傳感器則負(fù)責(zé)捕捉被照亮的物體的圖像。由于閃光源的特殊設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)非常短暫且高強(qiáng)度的光脈沖，使得被觀察的事件或物體能夠清晰地展現(xiàn)在圖像中。閃測(cè)影像儀具有以下優(yōu)勢(shì)：1、高速成2023
10-192023
10-18白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀)：揭秘測(cè)量坑的形貌的利器！
白光干涉儀廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工程實(shí)踐各個(gè)領(lǐng)域中。它作為一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，在測(cè)量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。白光干涉儀怎么測(cè)量坑的形貌？它是利用干涉現(xiàn)象，使用白光源照射物體，并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。如何使用白光干涉儀來測(cè)量坑的形貌？在使用白光干涉儀測(cè)量坑的形貌時(shí)，將白光干涉儀的出光口對(duì)準(zhǔn)坑樣的表面，調(diào)整儀器的焦距和位置，直到能夠得到清晰的干涉圖樣。然后，記錄下干涉圖樣的掃一掃訪問手機(jī)商鋪
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。